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上海光譜“CCD檢測器”研制項目通過國家課題驗收

發(fā)布時間:2011-03-03 作者: 來源: 瀏覽:321453

      2011年2月22日由上海光譜儀器有限公司主標,上海理工大學、中國電子科技集團公司第44研究所參標承擔的國家“十一五”科技支撐計劃項目“高分辨分光器件及接收部件(器件)的研制與開發(fā)?CCD檢測器”課題(課題編號2006BAK03A03)順利通過了由國家質檢總局科技司組織的課題驗收,各方專家對該課題取得的豐碩成果給與了充分肯定與贊賞。

      長期以來,高性能元器件一直是制約我國光譜儀器性能提升的關鍵所在,也是光譜儀器向多元素、快速測定、小型化等方向發(fā)展的瓶頸。為改變我國光譜儀器這種“空芯化”的狀況,科技部在十一五期間提出了包括紫外相應CCD、COMS,高穩(wěn)定光源、中階梯光柵等在內(nèi)的一批關鍵元器件的研制。經(jīng)過上海光譜和各參標單位的共同努力,在CCD、COMS紫外響應,中階梯光柵等元器件的研制上取得了重大突破,形成了包括四項發(fā)明專利在內(nèi)的多項自主知識產(chǎn)權,具備了產(chǎn)業(yè)化得基本條件。與會專家一致認為,應持續(xù)深入地將這項工作向工程化,產(chǎn)業(yè)化方向繼續(xù)推動下去,盡快形成生產(chǎn)能力,以改變當前的被動局面。

      本項目是上海光譜第一次主持的國家級科學儀器研發(fā)項目,與會的專家對于項目管理和項目財務管理給予了高分評價。

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