7月24日，HORIBA Jobin Yvon推出了該公司最新一代GD-PROFILER（TM）2型輝光放電光譜儀。該儀器采用了全新的高速電子學設(shè)計，從而使其深度分辨率達到小于1nm。同時，系統(tǒng)采用了著名的脈沖RF源，可以輕松應(yīng)對熱敏性導電和不導電表面的分析。獨特的HDD檢測器使得對于每一個元素分析的動態(tài)范圍可瞬時達到十個數(shù)量級。而儀器的大體積樣品室則進一步擴展了其應(yīng)用范圍。