日本反質(zhì)子質(zhì)量測(cè)定精度破紀(jì)錄 (2006-06-14)
發(fā)布時(shí)間:2007-12-04
作者:
來(lái)源:新華
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日本科學(xué)家8日宣布,他們對(duì)反質(zhì)子質(zhì)量的測(cè)定已精確到小數(shù)點(diǎn)后10位,打破了由他們自己保持的精確到小數(shù)點(diǎn)后9位的紀(jì)錄。
據(jù)共同社報(bào)道,東京大學(xué)教授早野龍五等人使用獲得2005年諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)的光梳技術(shù),先制造能精密測(cè)定頻率的激光,再用這種激光轟擊“反質(zhì)子氦”。所謂“反質(zhì)子氦”,是指用一個(gè)帶負(fù)電的反質(zhì)子置換氦原子兩個(gè)電子中的一個(gè)所得到的粒子。以“反質(zhì)子氦”的發(fā)光方式為基礎(chǔ),就可計(jì)算出反質(zhì)子的質(zhì)量。
科學(xué)家說(shuō),他們用這種方法成功使反質(zhì)子的質(zhì)量測(cè)定精確到小數(shù)點(diǎn)后10位。
現(xiàn)有理論認(rèn)為,反質(zhì)子的質(zhì)量與質(zhì)子相同。根據(jù)本次測(cè)算結(jié)果,反質(zhì)子的質(zhì)量約為電子質(zhì)量的1836倍,在這個(gè)精度上反質(zhì)子的質(zhì)量與質(zhì)子質(zhì)量確實(shí)一致。