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英特爾造出45納米測(cè)試芯片 預(yù)計(jì)明年將發(fā)貨 (2006-01-27)

發(fā)布時(shí)間:2007-12-04 作者: 來(lái)源: 瀏覽:1356
英特爾周三表示,已經(jīng)制造出了45納米測(cè)試芯片,可能將在2007年下半年開(kāi)始45納米處理器、閃存芯片的發(fā)貨。   英特爾本月創(chuàng)造出的這種芯片是靜態(tài)SRAM內(nèi)存芯片,容量為153兆,包含十多億個(gè)半導(dǎo)體,與英特爾2000年生產(chǎn)的包含1800萬(wàn)個(gè)半導(dǎo)體的130納米內(nèi)存尺寸差不多。雖然僅僅是測(cè)試芯片,但是這表明英特爾的整體制造戰(zhàn)略仍然按計(jì)劃進(jìn)行。   45納米芯片很有意義,許多專家都預(yù)測(cè)這將是多年來(lái)最困難的芯片之一,發(fā)熱量和性能要求都會(huì)很高,英特爾管理人員波爾表示:“這每次都增加一些困難,但是我們采用了新技術(shù)和方法。”   英特爾考慮在2009年推出32納米芯片,可能會(huì)采用浸入蝕刻法,EUV可能用于2011年開(kāi)始的22納米芯片的制造。
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